Resultats de la cerca

El Vocabulari Internacional de Metrologia (VIM) defineix el concepte magnitud com una propietat d'un fenomen, d'un co ...Unió Internacional de Química Pura i Aplicada. Vocabulari internacional de metrologia. Conceptes fonamentals i generals i termes associats. (VIM). 3a edició. 200 ...

El Vocabulari Internacional de Metrologia (VIM) defineix el concepte magnitud com una [[propietat (ontologia)|propiet ...rmcat |títol=sistema internacional d'unitats - Vocabulari internacional de metrologia |consulta=30 gener 2022}}</ref> ...

...invers) AC Josephson. Aquest efecte va trobar una aplicació immediata en [[metrologia]] perquè relaciona el volt amb el segon mitjançant una proporcionalitat que ...gines=155–166}}</ref><ref>{{Ref-publicació|cognom=Quinn|nom=T J|publicació=Metrologia|volum=26|exemplar=1|data=1 December 1988|issn=0026-1394|doi=10.1088/0026-13 ...

...e=CPEM 2006 round table discussion ‘Proposed changes to the SI’|publicació=Metrologia|url=https://doi.org/10.1088/0026-1394/43/6/014|volum=43|exemplar=6|data=200 ...

Els estats NOON són un concepte important en [[metrologia quàntica]] i [[detecció quàntica]] per la seva capacitat de fer mesures de ...ublicat per Lee, [[Pieter Kok|Kok]] i [[Jonathan Dowling|Dowling]] sobre [[metrologia quàntica]],<ref name="LeeKok2002">{{Ref-publicació|cognom=Lee|nom=Hwang|cog ...

En [[metrologia]], la '''incertesa de mesura''' és un paràmetre no negatiu que caracteritza En [[metrologia]], [[física]] i [[enginyeria]], la incertesa o el [[marge d'error]] d'una m ...

...ranco}}</ref> Aquests estats s'han proposat per a [[Metrologia quàntica|la metrologia quàntica]], per permetre una millor precisió per estimar un angle de rotaci ...rent es basava en l'ús d'estats amb una variància de spin reduïda per a la metrologia.<ref>{{Ref-publicació|cognom=Wineland|nom=D. J.|cognom2=Bollinger|nom2=J. J ...

[[Fitxer:Sumerian_Calendar_ISO_B0.svg|miniatura|424x424px|Metrologia sumèria]] ...is]] i els [[perses]], van continuar utilitzant aquestes agrupacions. La [[metrologia]] accadiosumèria ha estat reconstruïda aplicant mètodes estadístics per com ...

...ts diferents. Es minimitzen amb el [[calibratge]] dels equips amb [[Patró (metrologia)|patrons]] coneguts. ...

...nom=Kacker|nom=R. N.|cognom2=Lawrence|nom2=J. F.|data=26-2-2007|publicació=Metrologia|volum=44|exemplar=2|pàgines=117–127|doi=10.1088/0026-1394/44/2/003|issn=002 ...

...jectes d'investigació i desenvolupament inclouen [[Difusòmetre|sistemes de metrologia dimensional]], [[Fotolitografia (electrònica)|sistemes fotolitogràfics]], [ ...

...ecnologia|url=https://www.aulatecnologia.com/ESO/SEGUNDO/teoria/metrologia/metrologia.htm|consulta=2024-03-23}}</ref><ref>{{Ref-web|títol=El calibre|url=http://w * [[Metrologia]] ...

== Metrologia == ...rminar la distància focal dels sistemes òptics pertanyen a un camp de la [[metrologia òptica]] anomenat [[focometria]]. ...

La [[metrologia]] és la branca de la [[ciència]] que s'ocupa de l'estudi de les mesures i a ...la incertesa serà un dels principis fonamentals amb el que treballarà la [[metrologia]]. Es considera que els errors de mesura presenten una [[distribució normal ...

...suaris de les unitats tenien els recursos per dur a terme experiments de [[metrologia]] amb la precisió requerida, per la qual cosa es requerien estàndards de tr ...amb poc efecte sobre els usos comercials de les unitats. Els avenços de la metrologia van permetre formular definicions amb un alt grau de precisió i repetibilit ...

* [[Metrologia]] ...

...e traçabilitat i incertesa en la magnitud de massa] ''. Centre Nacional de Metrologia. Mèxic. Consultat el 12 de setembre de 2009.</ref><ref>'' [http://www.cesme ...

Aquest mètode de mesura de l'equilibri nul continua sent important en la [[metrologia]] elèctrica i en els treballs d’estàndards i també s’utilitza en altres àre ...

El refredament Doppler també s'utilitza en espectroscòpia i metrologia, on el refredament permet característiques espectroscòpiques més estretes. ...

...call). Les aplicacions de la tècnica del pentinat de freqüència inclouen [[metrologia]] òptica, generació de cadenes de freqüència, [[Rellotge atòmic|rellotges a ...